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某某微電子IC數(shù)字機(jī)測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目
2025-07-15
集成電路測(cè)試技術(shù)對(duì)集成電路的發(fā)展與應(yīng)用意義重大，尤其在軍工領(lǐng)域，是保障裝備可靠性的關(guān)鍵。本IC數(shù)字機(jī)測(cè)試系統(tǒng)解決方案針對(duì)數(shù)模混合集成電路，旨在對(duì) AD 模擬量數(shù)字機(jī)、DA 數(shù)字機(jī)及 MCU 的處理能力進(jìn)行功能驗(yàn)證，通過(guò)自動(dòng)或半自動(dòng)測(cè)試評(píng)估電路功能，助力設(shè)計(jì)人員優(yōu)化電路、提高檢測(cè)效率，確保軍工用集成電路質(zhì)量。
某某微電子IC數(shù)字機(jī)測(cè)試系統(tǒng)的核心是構(gòu)建一個(gè)集成多種功能的數(shù)字機(jī)檢測(cè)臺(tái)，以控制器為基礎(chǔ)，搭配模擬量采集、數(shù)字量采集、模擬量輸出、數(shù)字量輸出卡等設(shè)備及通訊接口、測(cè)試工裝和多種電源，實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)字機(jī) AI、AO、DI、DO 及通訊接口的測(cè)試。系統(tǒng)主要分為信號(hào) I/O 測(cè)試和通訊指令測(cè)試，信號(hào) I/O 測(cè)試涵蓋多路線徑的模擬量和數(shù)字量的輸出與采集判定，通訊指令測(cè)試則針對(duì)網(wǎng)口和串口進(jìn)行調(diào)試。
IC數(shù)字機(jī)檢測(cè)臺(tái)示意圖
測(cè)試原理為上位機(jī)軟件發(fā)送指令，經(jīng)采集板卡采集或輸出 A/D 信號(hào)，由 MATLAB 或 labview 數(shù)據(jù)處理模塊處理后，反饋給自動(dòng)化測(cè)試程序進(jìn)行 P/F 判定，且被測(cè)物從收到 ADC 采集命令到停止采集命令的時(shí)間為 4s。試驗(yàn)臺(tái)需安裝在滿足特定溫度、濕度要求的室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室，執(zhí)行多項(xiàng)國(guó)際和國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)。
某某微電子IC數(shù)字機(jī)測(cè)試系統(tǒng)硬件包括數(shù)據(jù)采集器、測(cè)試面板、PCB 轉(zhuǎn)接板、直流電源和機(jī)柜等。數(shù)據(jù)采集器是核心，集成多種板卡，具備強(qiáng)大的信號(hào)輸出、采集和處理能力；測(cè)試面板方便故障排查；其他部件各有其功能，共同保障系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行。軟件基于 labview 等平臺(tái)開(kāi)發(fā)，具有多種功能，支持自動(dòng)和手動(dòng)測(cè)試，可生成報(bào)告并進(jìn)行數(shù)據(jù)管理，測(cè)試流程涵蓋多個(gè)項(xiàng)目，滿足不同測(cè)試模式需求。
某某微電子IC數(shù)字機(jī)測(cè)試系統(tǒng)圍繞數(shù)模混合集成電路的功能驗(yàn)證展開(kāi)，構(gòu)建了一套完整的測(cè)試系統(tǒng)，涵蓋硬件和軟件設(shè)計(jì)，遵循多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)，能有效對(duì)數(shù)字機(jī)的各類接口和功能進(jìn)行測(cè)試。
方案的實(shí)施，可在集成電路研制、生產(chǎn)、應(yīng)用等階段反復(fù)檢驗(yàn)，確保產(chǎn)品質(zhì)量，尤其對(duì)軍工型號(hào)集成電路，能嚴(yán)格控制質(zhì)量，保障裝備可靠性。系統(tǒng)采用成熟技術(shù)和設(shè)備，遵循一體原則，設(shè)計(jì)成熟可靠，具備良好的穩(wěn)定性和可擴(kuò)展性，支持后續(xù)軟件迭代更新。
在硬件方面，各組成部分功能明確、性能達(dá)標(biāo)，數(shù)據(jù)采集器的強(qiáng)大性能為測(cè)試提供有力支撐；軟件功能豐富，操作流程清晰，能滿足不同測(cè)試需求，生成的圖文報(bào)告便于數(shù)據(jù)追溯和分析。通過(guò)該方案，可提高集成電路檢測(cè)效率，優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)，為集成電路的質(zhì)量把關(guān)提供堅(jiān)實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)。
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