中茂 Chroma 半導體/IC測試解決方案
2015-08-13
中茂 Chroma 半導體/IC測試解決方案VLSI測試系統能精準的仿真邏輯IC復雜的電性訊號并快速判讀測試結果，測試頭(Test Head)的擴充功能更可執行多種測試程序并同時進行大量的并行測試(massive multisite)，提高單位時間產出量(throughput)； 另外，中茂 Chroma 半導體/IC測試解決方案客制化的測試機臺可直接符合需求，取代昂貴的通用型測試機，確實達到降低測試成本的目標。 在IC后段制程中，分類機可配合多種不同封裝類型的IC進行良劣分類，后端封裝測試之后，中茂 Chroma 半導體/IC測試解決方案自動化系統功能測試機可迅速檢測封裝成品，以實際使用環境檢測成品取代虛擬的測試環境，提供低成本之高涵蓋率測試，大幅提高出貨質量。長沙艾克賽普儀器設備有限公司是中茂 Chroma 在華中地區授權代理商，可提供樣機和相關工程師上門演示溝通，以下是長沙艾克賽普儀器設備有限公司為您介紹中茂 Chroma 半導體/IC測試解決方案系列產品的詳細介紹,如果您有任何問題或者需要相關資料，請隨時聯系：0731-84284278轉801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。
VLSI 測試系統
- Model 3380 VLSI 測試系統
- Cost Effective For Production
- 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins)
- Up to 1024 sites Parallel testing
- Various VI source
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
- Your Dream Platform for Various Types of Devices.
- Model 3380-P VLSI 測試系統
- Cost-effective VLSI Test System
- 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins)
- Up to 512 sites Parallel testing
- Various VI source
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O,ADDA,VI source
- Your Dream Platform for Various Types of Devices.
- Model 3380-D VLSI 測試系統
- Best Lab-tool engineering & production Tester
- 100Mhz clock rate, 256 I/O channels
- Up to 256 sites Parallel testing
- Various VI source
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
- Your Dream Platform for Various Types of Devices
- Model 3360-P VLSI 測試系統
- Bridging Design To Production. The Best Lab Tool & Cost-effective VLSI Test System
- 50 Mhz clock rate, 256 I/O channels
- Up to 32 sites Parallel testing
- Support ADDA, Mixed-signal , LCD …etc option card
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, UVI, HVREF …etc option Your Dream Platform for Various Types of Devices.
- Model 3360-D VLSI 測試系統
- The Best Lab Tool
- 50 Mhz clock rate, 64 I/O channels
- Up to 8 sites Parallel testing
- Support full rang AC Inlet & Small footprint
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI option Your Dream Platform for Various Types of Devices.
- Model 3360 VLSI 測試系統
- Cost-effective VLSI Test System
- 50 Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 608 pins)
- Up to 64 sites Parallel testing
- Support HI-voltage VI & LCD option card
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI option
- Your Dream Platform for Various Types of Devices.
SoC 測試系統
- Model 3650-EX SoC/Analog Test System
- Cost effective & high parallel site Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
- Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
- Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX
- Model 3650 SoC 測試系統
- Cost effective & high throughput Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
- Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 640 channels
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
- Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
- Model 3650-CX SoC 測試系統
- Versatile Compact Size IC Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
- Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 256 channels
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
- Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
- Model 36010 可程控邏輯腳位模塊
- 100 MHz programmable pin electronic module designed for charactering and testing digital & mixed-signal IC
- 100 MHz maximum test rate
- Scalable architecture to provide up to 64 pins
- Per Pin TMU, TMU, and level/timing setting
- 32M vector memory, with scan support
- Model 36020 直流電源供應模塊
- Programmable DUT power supply in a single slot 3U PXI module
- 4 Channels in standard PXI 3U/PXIe-Hybird compatible bus type
- +5/-2V and +10V/-2V force ranges
- 16-bits VF and 18-bits IM resolution
- 6 selectable ranges from 5uA to 250mA, with ganged function support
IC測試分類機 (IC Test Handler)
- Model 3110 雙用單站測試分類機
- 運用 Pick & Place 技術, 將待測晶片由進料艙移至測試區，再依測試結果進行分類。不但適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測試的能力。
- Model 3110-FT 三溫測試分類機
- 3110-FT為CHROMA全新開發，適用于Final test工 程產品特性及測試開發用途之Pick & Place測試分類機。
- 可設定溫度范圍 -40℃~125℃
- 適用于FT測試
- 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到 45x45 mm
- Model 3111 桌上型單站測試分類機
- Chroma 3111迷你桌上型單站的自動化測試分類機適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測 試的能力，系統支援各種不同類型的封裝晶片，支援的晶片尺寸從 5x5mm 到 45x45mm。
- Model 3112 晶片測試分類機
- 具備單頭與多頭之適合量產的PnP 自動化晶片測試分類機。
- Model 3160/3160-A 終端測試分類機
- 適合量產、高產出且多平行測試站點的高速IC測試分類機。
- 9Kpcs 產能
- 可設定的待測物間距
- 可側邊安裝tester
- 壓閥式受測物防護機
- Model 3180 邏輯測試分類機
- 3180是一款運用Pick & Place技術的量產型機臺,適合高產出多測試站點的IC測試。節省了廠房空間,測 試時間和成本,3180創新的設計可提高生產力和生產效率。機臺可配置作單站, 雙站, 四站或八站測試, 亦可升級作高溫150 ℃測試.。
- 具有八個平行測試站點
- 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到50x50 mm
- 溫度測試范圍從常溫到高溫150 ℃
- Model 3240 自動化系統功能測試機
- 可供多組PCB level平行測試的大量生產機具。
- 4-sites
- Model 3260 自動化系統功能測試機
- 可供多組PCB level平行測試的大量生產機具。
- 6-sites
- Model 3270 微型 IC 測試分類機
- 適合 CMOS 影像感應元件(CIS : CMOS Image Sensor) 量產所需。
- Model 3280 SD Card 測試分類機
- 采用創新的技術整合SD卡測試機與自動分類機的功能，并利用Test-In-Tray的技術來 達到大量平行測試的能力。
- Model 3813 觸碰面板多點半自動測試機
- 可靠的觸碰面板測試機,適合數位式觸碰面板與類比式觸碰面板。
外觀檢查系統
- Model 7970 影像傳感器檢測系統
- Chroma 7970 影像感測器檢測系統為一自動化載盤式外觀檢測系統，可檢測影像感測器正反兩面外觀瑕疵。
- 提供完整的影像感測器玻璃面與錫球面外觀檢測功能
- 可大幅降低處理時間之定速連續取像功能
- 已申請專利的多吸嘴吸取功能可增加整體檢測速度
- 先進的光源系統可適用于不同的瑕疵類型
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