DUV/VIS/NIR光譜型橢偏儀SE850DUV
名稱：物性分析測試儀器
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簡介：簡單信息： 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究溫度、應力、張力、摻雜、組份、晶態等對材料禁帶寬度的影響；深紫外也可研究AlGaN, AlN等寬禁帶材料，測量膜厚0-10nm。可見光可測量折射率梯度。近紅外使用FTIR，測量時間短...
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- 產品介紹
簡單信息： 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究溫度、應力、張力、摻雜、組份、晶態等對材料禁帶寬度的影響；深紫外也可研究AlGaN, AlN等寬禁帶材料，測量膜厚0-10nm。可見光可測量折射率梯度。近紅外使用FTIR，測量時間短（全光譜、多角度測量可在10分鐘內完成）.
商品名稱： DUV/VIS/NIR光譜型橢偏儀
商品型號： SE850DUV
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