吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統
名稱：可編程電源
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簡介：吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統具有高精度和亞fA級的分辨率。吉時利 KEITHLEY 42...
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吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統具有高精度和亞fA級的分辨率。吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統提供了最先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，Windows操作系統與大容量存儲器。吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統其它一些特征使得應力測量功能能夠滿足各種可靠性測試的需求。以下是艾克賽普為您介紹吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統的特點，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司m.kafenchem.com，聯系電話：0731-84284278 84284378。
吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統的特點：
* 直觀的、點擊式Windows操作環境
* 獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至 0.1fA
* 用于高級半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
* 集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡
* 內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲
* 獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能
* 內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規范的樣品測試
* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈沖發生器等多種外圍設備
* 硬件由 Keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充
* 包括驅動軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺
* 支持先進的半導體模型參數提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
吉時利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導體特性分析系統的特點：
* 直觀的、點擊式Windows操作環境
* 獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至 0.1fA
* 用于高級半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
* 集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡
* 內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲
* 獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能
* 內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規范的樣品測試
* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈沖發生器等多種外圍設備
* 硬件由 Keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充
* 包括驅動軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺
* 支持先進的半導體模型參數提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
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