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天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀利用中國(guó)歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的權(quán)威部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K...
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- 產(chǎn)品介紹
天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀利用中國(guó)歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的權(quán)威部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對(duì)照中國(guó)古陶瓷數(shù)據(jù)庫(kù)便可以達(dá)到斷代斷源的功效。同時(shí)，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測(cè)量特性，我公司根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測(cè)。天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀在測(cè)試陶瓷的同時(shí)亦可以測(cè)試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學(xué)成份和金屬鍍層厚度，做到一機(jī)多用，是古文物檢測(cè)必備的科學(xué)檢測(cè)儀器。中國(guó)歷史博物館、中國(guó)收藏家協(xié)會(huì)等古文物收藏部門都是其用戶。應(yīng)用于古陶瓷、古青銅器、古首飾、鍍層測(cè)厚。
以下是艾克賽普為您介紹天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀的技術(shù)參數(shù)，如有相關(guān)問題，請(qǐng)聯(lián)系長(zhǎng)沙艾克賽普儀器儀表公司m.kafenchem.com，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
型號(hào)：EDX8000L
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素：同時(shí)可以分析30種以上元素
測(cè)量鍍層：鍍層厚度測(cè)量最薄至0.01微米
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測(cè)量時(shí)間：30s—200s
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V
消耗功率：200W
環(huán)境溫度: 15-26℃
相對(duì)濕度: ≤70%
天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀的標(biāo)準(zhǔn)配置：超薄窗大面積的原裝進(jìn)口Fast SDD探測(cè)器；數(shù)字多道系統(tǒng)；可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片；光路增強(qiáng)系統(tǒng)；內(nèi)置高清晰攝像頭；加強(qiáng)的金屬元素感度分析器；智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。面光源放大；電路高低壓電源；X光管；多變量非線性回歸程序；相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。三重安全保護(hù)模式；外觀尺寸： 800×710×1360 mm；樣品腔尺寸：590×550×600mm；重量：280kg。
如果您需要天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀及天瑞品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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