湖南省長(zhǎng)沙市車(chē)站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
0731-84284278
0731-84284278
service@hncsw.net
0731-84284278
艾克賽普 汽車(chē)?yán)走_(dá)緊縮場(chǎng)(CATR)測(cè)試系統(tǒng)解決方案
2024-03-18
雷達(dá)傳感器技術(shù)在自動(dòng)駕駛中發(fā)揮著重要作用。具體來(lái)說(shuō)，成像雷達(dá)因具備以下特性而越來(lái)越受歡迎：高分辨率；多輸入多輸出(MIMO)天線；以及寬孔徑、更高的遠(yuǎn)距離目標(biāo)識(shí)別能力和更長(zhǎng)的遠(yuǎn)場(chǎng)距離。所有這些新的測(cè)試挑戰(zhàn)都需要更采用復(fù)雜的測(cè)試設(shè)備。為了經(jīng)濟(jì)高效地跟上技術(shù)發(fā)展的步伐，當(dāng)今的雷達(dá)測(cè)試解決方案必須快速、準(zhǔn)確、智能、緊湊且可擴(kuò)展性強(qiáng)。
一、客戶(hù)需求
緊縮場(chǎng)(CATR)微波暗箱，在短距離內(nèi)創(chuàng)造高質(zhì)量靜區(qū)。
在校準(zhǔn)過(guò)程中，沿單個(gè)雙軸軌跡同時(shí)移動(dòng)，并擁有高精度的待測(cè)雷達(dá)運(yùn)動(dòng)。
測(cè)試和校準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)快速循環(huán)，多個(gè)待測(cè)雷達(dá)可以并行處理。
空間狹小無(wú)法容納遠(yuǎn)場(chǎng)大型微波暗室。
高度靈活的測(cè)試控制和應(yīng)用軟件，方便集成到現(xiàn)有生產(chǎn)環(huán)。
二、優(yōu)勢(shì)
為您的特定測(cè)試和自動(dòng)化需求量身定制的緊湊型測(cè)試臺(tái)，能夠適應(yīng)您的生產(chǎn)環(huán)境。
靈活且可擴(kuò)展性強(qiáng)的模塊化雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，可滿(mǎn)足新的測(cè)試需求，以適應(yīng)未來(lái)的變化，實(shí)現(xiàn)高投資回報(bào)。
用型一站式解決方案，提供全球現(xiàn)場(chǎng)支持和豐富的服務(wù)，制造周期短 。
專(zhuān)為生產(chǎn)而優(yōu)化的快速、準(zhǔn)確且高效的測(cè)試系統(tǒng)，可從雷達(dá)傳感器開(kāi)發(fā)測(cè)試擴(kuò)展到經(jīng)濟(jì)型大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試 。
艾克賽普汽車(chē)?yán)走_(dá)緊縮場(chǎng)(CATR)測(cè)試系統(tǒng)解決方案將NOFFZ UTP 5069測(cè)試室、自動(dòng)化功能和軟件與NI VRTS相結(jié)合，可測(cè)試下一代雷達(dá)技術(shù)，有助于節(jié)省成本、更有效地利用空間并輕松適應(yīng)新要求。
CATR測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部框圖設(shè)置
三、艾克賽普解決方案
UTP 5069下線檢測(cè)(EOL)雷達(dá)傳感器測(cè)試系統(tǒng)在緊縮場(chǎng)(CATR)微波暗箱中具有出色的反射抑制能力， 且占地面積小，適用于大型成像雷達(dá)傳感器。
4GHz帶寬車(chē)載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)(VRTS)可幫助您并行執(zhí)行高度可重復(fù)且準(zhǔn)確的雷達(dá)障礙物仿真和參數(shù)測(cè)量，從而縮短測(cè)試時(shí)間。
可選的雙爪上下料工作站有助于縮短測(cè)試周期。
機(jī)械臂將待測(cè)雷達(dá)非常精確地放置在靜區(qū)內(nèi)，并允許待測(cè)雷達(dá)在方位角和仰角上進(jìn)行高度準(zhǔn)確的運(yùn)動(dòng)，從而獲得理想校準(zhǔn)結(jié)果。
基于NOFFZ UTP套件的獨(dú)立應(yīng)用軟件可幫助您實(shí)現(xiàn)同步待測(cè)雷達(dá)運(yùn)動(dòng)、并行測(cè)量、變量管理、獨(dú)立數(shù)據(jù)庫(kù)連接等。
艾克賽普公司推薦使用美國(guó)NI設(shè)備，如果您有汽車(chē)?yán)走_(dá)緊縮場(chǎng)(CATR)測(cè)試系統(tǒng)需求或任何技術(shù)疑問(wèn)，歡迎聯(lián)系我們將提供免費(fèi)樣機(jī)上門(mén)試用和更合適的測(cè)試解決方案。
最新資訊
